Jest tu ktoś, kto miał styczność bądź też nadal pracuje korzystając z systemu NEXIV AutoMeasure?
Dziury w nanoobrazowaniu załatane dzięki czarnym dziurom

Opracowana na Politechnice Warszawskiej metoda obliczeń potrzebnych przy obrazowaniu i metrologii nanoobiektów, bazuje na analizie pojedynczego ujęcia z interferometru. Chodzi o wyznaczanie geometrii obiektów niewidzialnych gołym okiem. Artykuł opublikowano w czasopiśmie "Laser & Photonics Reviews".
z- 0
- #
- #
- #
- #
- #
- #












![Metrologia: Jak uniknąć najczęstszych błędów podczas pomiarów? [Piotr Burnos]](https://wykop.pl/cdn/c3397993/75f35f717e2b8e8556a70a6564baf42a83fcc42f2a7f464f50d37e4a5cb536e0,w220h142.jpg)











